SiTime晶振的扩频振荡器可以确保您的产品一次性通过 EMI 合规性测试，而无需昂贵的重新测试、重新设计或使用机械屏蔽。
用于降低 EMI 的可编程性 – 降低高达 30 dBm
SiTime 的扩频振荡器通过结合扩频类型、振幅、调制技术、输出电压摆幅和转换速率的可编程性，提供了最大的灵活性。
这些解决方案解决了 EMI 问题，而不会影响石英晶体振荡器的性能。而且，它们通过确保排放合规性来加快创收时间，而无需昂贵的重新测试、有问题的重新设计或昂贵的重新包装。
借助各种可用功能 - 全部集成在一个小型设备中 - 设计人员可以快速轻松地实现排放合规性。
通过使用 SiTime可编程晶振 MEMS 时序解决方案，系统设计人员可以在不改变 PCB 布局或使用机械屏蔽的情况下实现辐射合规性。这些器件通过扩频时钟或使用 FlexEdge™ 功能，或两者的组合来降低 EMI。通过使用 SiTime 的 Time Machine II 编程器，设计人员可以在实验室中对 EMI 降低振荡器进行编程，并试验不同级别和的 EMI 降低技术，以实现 EMI 和系统性能的最佳平衡。
SiTime 的扩频振荡器
| 装置 | 点差类型和范围 | 调制类型 |
上升/下降时间 （Slew Rate） |
输出类型 | 频率范围 | 封装(mm) |
| SiT9005 |
中心：最大 ±2% 下降：最大 ±-4% |
三角形，Hershey-Kiss |
8 个选项， 0.25 至 40 ns |
LVCMOS | 1 至 141 MHz | 2.0x1.6、2.5x2.0、3.2x2.5 |
|
Si9025 （AEC-Q100） |
中心：最大 ±2% 下降：最大 ±-4% |
三角形、Hershey-Kiss、Random |
8 个选项， 0.25 至 40 ns |
LVCMOS | 1 至 150 MHz | 2.0x1.6、2.5x2.0、3.2x2.5 |
|
SiT99045 （MIL 测试） |
中心：最大 ±2% 下降：最大 ±-4% |
三角形、Hershey-Kiss、Random |
8 个选项， 0.25 至 40 ns |
LVCMOS | 1 至 150 MHz | 2.0x1.6、2.5x2.0、3.2x2.5 |
| SiT9003 |
中心：±0.5% mx 下：最大 ±-1% |
三角形 |
4 个选项， 0.6 至 12.1 ns |
LVCMOS | 1 至 110 MHz | 5.0x3.2、7.0x5.0 |
| SiT9002 |
中心：最大 ±2% 下降：最大 ±-4% |
三角形 | 2 个摆动选项 | 微分 | 1 至 220 MHz | 5.0x3.2、7.0x5.0 |
精工晶振,32.768K晶振,SSP-T7-F晶振
精工晶振,石英晶振,SSP-T6晶振
富士晶振,石英晶体振荡器,FCO-120晶振
