石英晶体是一种很常见的频率控制元器件，选型时需要的参数有封装尺寸、频率、频率容许偏差，负载电容、工作温度、储存温度、老化率、激励功率等。负载电容是比较复杂而且特殊的一项参数，因为负载电容还要再匹配一个相应的外围电容。

  什么是SMD晶振匹配电容测试?如果系统由于晶体/振荡器不合适而不能正常工作,频率偏差不符合规范,则匹配测试是解决这些问题的有效方法.

A.振荡电路的测试方法

1.振荡频率的测量

2.驱动水平的测量

驱动电平等于运行石英贴片晶振的功耗。如图所示

下面，用电流探针测量流入晶体的电流（Ix）。

功率（驱动电平）的计算公式：

DL（功率）=（Ix）2×Re;其中Ix：有效电流值（rms），

Re：有效电阻，Re = R1 x（1 + C0 / CL）2，R1：串联电阻

3.负阻的测量

负阻用于确定石英晶体谐振器振荡电路的振荡容限

并预测振荡的稳定性。如下图所示，连接一个可变电阻

（VR）串联到晶体，然后逐渐增大电阻。水晶会的

停止振荡一定的值。

负阻（-R）的计算公式：

|-R| = VR + Re，Re = R1×（1 + C0 / CL）2，R1：串联电阻